[容量103z]容量_03片钽容量故障分析

作者:希文      发布时间:2021-04-19      浏览量:0
片钽容量故障分析固体钽容量最大的一点是对

片钽容量故障分析

固体钽容量最大的一点是对环境变化的反应迟钝。

早期钽电容器故障主要是由两个因素引起的,最明显的是极性连接反而引起的破坏故障,该故障多在研究开发阶段,由于设计和测试不当,禁止使用万用表电阻挡对片状钽电容器电路及其本身进行极性电阻测试。另一个避免的故障通常发生在实际工作中。其原因是焊接温度过高,焊接持续时间过长,钽电容器内的钽和阳极引线熔融的焊接受热流,形成多馀物,短路故障。随着钽电容器的片状化和技术水平的提高,该故障已经得到控制和消除,更深层次的故障原因也开始暴露。在实际的生产和使用中,片式钽电容器的故障呈现以下特征:

(tall大的片式钽电容器比容量小的片式钽电容器故障

(2)片式钽电容器故障多发生在固定位置或固定电路中,例如电源过滤电路中

(3)电源过滤电路中最初的电容器故障

(4p>(测试时的电瞬间片式电容器故障最容易发生的

(老化过程中最初的电容易发生故障)

(4p>(4p>电容易发生故障的情况下)电容易发生故障。

总结以上现象,主要导致片钽电容器故障的因素是容量、温度和浪涌。

故障原因分析

(1)、容量值如何引起片状钽电容器故障

随着片状钽电容量值的增大,体积增大,耐压值和串联阻抗下降。因此,小容量值的片式钽电容器具有较高的耐压值,不易发生故障。本质上是耐压值对钽电容器故障的影响。固体片式钽电容器加高电压,内部形成高电场,容易局部破坏,故障,也就是常说的场故障。因此,为了提高可靠性,有必要减少50%。

(2)、温度如何引起片状钽电容器的故障

热效应。通常,通过增加减额,使用缓慢启动电路来提高可靠性,同时避免高环境温度,远离热源。

(3)、浪涌如何导致片状钽电容器故障

浪涌电流的大小决定电压上升的速度,电时浪涌电流加入输入电容器时,电容器承受浪涌的能力依赖于额定电压。串联电阻可以降低浪涌电流的峰值,但同时增加了阻尼电阻,降低了电路的Q值。

在低阻抗电路中,电流瞬态冲击峰值取决于片钽电容器内部的ESR,承受同样的冲击电流,ESR低的片钽电容器比ESR更有可能失效。由于片钽电容器的容量值越高,体积越大,等效ESR越小,体积越小的片钽电容器内部有较高的ESR,其本身限制了最大的浪涌电流。因此,大容量值的片式钽电容器通常由多个小容量值的并联替代。

(4)、制造技术对片钽电容器故障率的影响纯度、介质厚度、片钽电容器的密封材料、MnQ2的平坦度。

还没有结束。的双曲馀弦值。的双曲馀弦值。